دانلود تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS
طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است. این روش جهت آنالیز عنصری، آنالیز سطح و جهت اهداف کمی و کیفی صورت میگیرد. اجزای اصلی دستگاه شامل منبع یون، تجزیهگر جرمی و آشکارساز یونی میباشد. طراحی های مختلفی از این دستگاه با کارآیی های متنوع ارائه شده است.این روش به طور گسترده ای تقریبا برای شناسایی تمام عناصر موجود در جدول تناوبی کاربرد دارد. اساسا هر اتم یا مولکولی که توانایی یونیزه شدن و انتقال به فاز گازی را داشته باشد، میتواند توسط این تکنیک مورد تجزیه قرار گیرد.
- ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف
- قابل ارائه برای رشته مهندسی مواد، رشته فیزیک، رشته شیمی و نانومواد
- قابل ارائه برای مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد
- قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد