کتاب Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry اثر Christine M. Mahoney انتشارات Wiley
0%
(0 نفر) از خریداران، این کالا را پیشنهاد کرده اند
برند :
متفرقهویژگی ها
- نوع جلد : شومیز
- نوع کاغذ : تحریر
- گروه سنی : بزرگسال
مشخصات محصول
کتاب طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه خوشه‌ای: اصول و کاربردها (Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications) نوشته Christine M. Mahoney (کریستین ام. ماهونی) کتابی است که در سال 2013 منتشر شده و به بررسی اصول، کاربردها و فناوری طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه خوشه‌ای می‌پردازد. این کتاب به طور جامع روش‌های مختلف نمونه‌برداری و آنالیز در CS-SIMS را تشریح می‌کند و نحوه کاربرد آن در آنالیز سطحی، تجزیه مواد و علوم زیستی را بررسی می‌نماید. نویسنده کتاب، Christine Mahoney، یکی از محققان برجسته در زمینه CS-SIMS بوده و مقالات متعددی در این حوزه منتشر کرده است. این کتاب برای دانشجویان، محققان و آنالیزگرهای علاقه‌مند به کاربرد CS-SIMS مفید خواهد بود.
نویسنده
Christine M. Mahoney
ناشر
Wiley
شابک
9780470886052
موضوع
طیف‌سنجی جرمی، آنالیز سطح
قطع
رقعی
نوع جلد
شومیز
نوع کاغذ
تحریر
تعداد صفحه
380
گروه سنی
بزرگسال
وزن
380 گرم
